一般情况下,电子元器件的寿命试验属于( )。
2021-05-03
一般情况下，电子元器件的寿命试验属于（ ）。
A.非破坏性检验
B.破坏性检验
C.全数检验
D.感官检验
正确答案：BB。
词条内容仅供参考，如果您需要解决具体问题
（尤其在法律、医学等领域），建议您咨询相关领域专业人士。
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